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TEC-I · Controllers & Instruments

TEC 컨트롤러 · 품질 검사 · 분석 장비

TEC를 정밀하게 구동하는 PID 컨트롤러와, 입고 · 실장 · 양산 단계에서 TEC 상태를 판정하는 Z-미터, 연구용 열전 분석 장비를 공급합니다.

제조 TEC Microsystems GmbH, Berlin품질 ISO 9001:2015표준 모델 5,000종 이상퓨텍 한국 공식 대리점 15년+
DX5100

DX5100 프로그래머블 TEC 컨트롤러

DX5100 TEC 컨트롤러

TEC를 가열 · 냉각 양방향으로 PID 제어하는 정밀 컨트롤러입니다. PID 자동 튜닝, 정전압 모드, 온도 프로그램 운전을 지원하고, 운전 중 TEC의 교류 저항 · 성능지수 · 시정수를 측정해 상태를 진단합니다. PC 제어와 단독 운전이 모두 가능하고 LabVIEW와 완전히 연동됩니다.

주요 사양

제어
양방향 PID, 자동 튜닝, 정전압 모드
출력
2채널 × 32 W (4 A × 8 V)
센서
NTC · PTC Thermistor
통신
USB, RS-485
네트워크
최대 128채널 동시 운용
소프트웨어
LabVIEW 연동
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VERSIONS

DX5100 형태별 구성

DX5100 OEM, Frame, TableTop
왼쪽부터 OEM · Frame · TableTop
형태출력용도
OEM3 A × 8 V · 4 A × 8 V · 12 A × 8 V장비 내장용 소형 모듈. 확장 보드로 기능 추가
Frame3 A × 8 V · 4 A × 8 V · 12 A × 8 V금속 하우징, 표준 랙 장착
TableTop2 × 4 A × 8 V (독립 2채널)탁상형 올인원, 실험실 · R&D
Z-METER

Z-미터 — TEC 품질 검사기

TEC는 정상 조건에서 25년 이상 쓸 수 있지만, 실장 과정이나 취급 부주의로 손상될 수 있습니다. Z-미터는 세 가지 값으로 TEC 상태를 빠르게 판정해 입고 검사와 실장 전후 비교에 씁니다. 리드선 · WB 단자 TEC와 이미 실장된 TEC 모두 측정할 수 있고, 결과를 기준 주위 온도로 보정합니다.

측정값보여주는 것활용
ACR (교류 저항)TEC 전류 조건실장 전후 비교. 충격 후 5% 넘게 변하면 불량(Telcordia GR-468 기준)
Z (성능지수)소재 품질과 성능 수준열화 · 성능 저하 분석
τ (시정수)전원 인가 후 안정될 때까지 시간조립 · 실장 상태 판정 (내부 박리 발견)
모델형태특징
DX4100 NEW휴대형 · 6세대2025년 출시. PC 없이 단독 동작, smart auto-measurement로 TEC를 빠르게 검사
DX4085휴대형PC 불필요. Z-미터 · 전압계 · 디지털 온도계 3기능 일체
DX4090범용내부 · 외부 클립 2종 측정. 소 · 중량 배치 입고 · 공정 · 출하 검사, R&D
DX4095 MiniUSB 크기단품 TEC 시험, 시제품 확인, 간헐 사용
DX419010채널10개 동시 측정. 양산 전 공정 전수 검사, 완제품 내 TEC 검사
R&D EQUIPMENT

TEC · 열전 소재 분석 장비

DX8020, DX8080, DX8070 분석 장비
왼쪽부터 DX8020 · DX8080 · DX8070

TEC의 핵심 성능과 소비전력을 지정 조건에서 한 번에 측정하는 전문 연구 장비입니다. 진공 · 건조 공기 중 시험, 공급사 데이터시트 값 검증, 여러 공급사 비교 분석에 씁니다.

모델대상측정
DX8020 TEC ExpertTE 모듈주어진 주위 조건에서 한 번의 측정으로 전체 사양 산출. 인수 · 인증 · 연구 시험
DX8080 TEM ExpertBiTe 펠렛 (P · N형)제벡 계수, 전기 전도도, 성능지수 Z, 열전도도 (온도 구간별)
DX8070 Ingots TesterBiTe 잉곳 · 디스크극성을 고려한 제벡 계수 · 전기 전도도 입고 검사

TEC 구동 · 검사 장비가 필요하신가요?

채널 수와 전류, 검사 수량을 알려주시면 맞는 모델을 추천해 드립니다.

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