LIV 시험기 · 펄스 전류원 · SMU 소스미터 · PXIe

PLT1403

100 ns Pulse Current Source

LiDAR TO, VCSEL 어레이 같은 고출력 레이저용 Narrow Pulse 시험기입니다. ns 펄스 스윕과 DC PIV 곡선, 특성 파라미터 계산, 스펙트럼 시험(외부 분광기)을 지원합니다. 펄스 전압원 · 전류계 · 전압계 · 광파워미터를 한 장비에 넣었습니다.

최소 펄스 폭 100 ns, 듀티 최대 0.5%
구동 전류 최대 30 A / 40 V
near-end · far-end 전류 측정, 4선식 전압 측정
출력 사전 보호, 외부 Integrating Sphere(옵션)
PD 응답 850 – 1700 nm, MES 연동

주요 사양

출력 전류: 0 – 30 A, 0.5% RDG ± 0.15 A
펄스 폭: 100 ns – 1 µs, 분해능 10 ns
Rise / Fall: ≤ 펄스 폭의 20%
전압 측정: 0 – 10 V / 0 – 40 V
크기 · 무게: 380 × 200 × 90 mm, 3.5 kg

이 장비 견적 문의

펄스 파형 · 905 nm 레이저 TO 실측 측정 데이터 — **펄스 파형 · 905 nm 레이저 TO 실측**전류별 펄스 파형(왼쪽), 905 nm 레이저 TO LIV 데이터(가운데), 100 ns 구동 전류와 PD 광전류 파형(오른쪽).클릭하면 원본 크기로 확대

PLT2301 · 2302 · 71010

µs Pulse Test System

RGB 고출력 칩 · COS · TO · 모듈, 고출력 버터플라이 어레이, BAR · COC 시험용 Pulse Current Source과 고출력 전원입니다. 펄스 에지 기울기 제어, 외부 동기 트리거, 다수 장비 병렬 운용과 출력 극성 전환을 지원합니다.

DC 최대 10 A, 펄스 최대 30 A, 최소 펄스 5 µs
2선 · 4선식 전압 측정
사전 점검, 단락 · 과열 보호
PD 응답 850 – 1700 nm, 외부 Integrating Sphere(옵션)

모델별 사양

PLT2301: 0 – 30 A 펄스, 0 – 40 V, 10 µs – 500 ms, 듀티 0 – 30%
PLT2302: 0 – 10 A DC · 30 A 펄스, 0 – 20 V, 5 µs – 500 ms
PLT71010: 0 – 10 A, 0 – 100 V, 100 µs – 500 ms
정확도: ±(0.05% RDG + α)

이 장비 견적 문의

PLT2302 30 A 5 µs 펄스 · PIV 스윕 측정 데이터 — **PLT2302 30 A 5 µs 펄스 · PIV 스윕**30 A, 5 µs 펄스 전류 파형(왼쪽)과 같은 조건의 PIV 스윕 곡선(오른쪽).클릭하면 원본 크기로 확대

SM11041 · 13041 · 13042 · 13043 · 11081

4 · 8채널 Benchtop SMU

완전히 독립된 4 · 8채널 소스 · 측정 채널로 병렬 시험을 합니다. 전류 · 전압 분해능이 10 pA / 100 µV까지 내려가고, 펄스 출력(최소 100 µs)과 연속 · 스윕 · 시퀀스 모드, 4사분면 출력을 지원합니다.

최대 ±10 V ±100 mA / ±30 V ±500 mA (13042는 ±30 V ±1 A 펄스)
채널당 1 W / 3 W 출력 · 흡수
DIO 외부 동기 트리거, 2선 · 4선 측정
기가비트 이더넷, RS232, RS422, SCPI 명령
2026년 신제품 SM13043 — 4채널 정밀 SMU, 다채널 병렬 시험용

측정 범위 (예: SM13041)

전류 출력: 1 µA – 500 mA, 0.05% + 오프셋
전류 분해능: 10 pA부터
전압: 10 V · 30 V, 0.03% + 1 mV
펄스 폭: ≥ 100 µs, 듀티 0 – 100%
채널: 4 (11081은 8)

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LIV60101 · 60201

LIV 통합 시험 시스템

LD, TO-CAN, TOSA, DML, EML, SOA-EML, TEC 내장 소자의 온도 제어, LIV · PV 곡선, 특성 파라미터를 시험합니다. 온도 컨트롤러, 전류원, 전압원, 전류계, 전압계, 광파워미터를 한 장비에 넣어 빠르고 정밀하게 시험합니다.

VCSEL · FP · DFB · DML · EML · DBR · SG-DBR 시험
펄스 스펙트럼 시험, LIV 스윕 스텝 2 ms – 6 s
EA PV 곡선, LD Reverse Leakage · 보호 다이오드 · MPD Dark Current
대면적 PD · Integrating Sphere · TO 지그, 다채널 확장

주요 사양

구동 전류: 0 – 500 mA
LD 전압: 0 – 5.0 V
EA (60201): −5.0 ~ +1.0 V, −100 ~ +30 mA
TEC (60201): ±1 A, ±1.6 V
광파워: 0 – 10 mW, 800 – 1700 nm
펄스 스펙트럼: 폭 200 µs – 65 ms

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LIV 시험 구성과 측정 곡선 측정 데이터 — **LIV 시험 구성과 측정 곡선**OSA · 스위치를 포함한 구성도(왼쪽)와 P-I 곡선 · 1차/2차 미분 곡선(오른쪽).클릭하면 원본 크기로 확대

PXIe PLATFORM

PXIe 범용 계측 플랫폼

섀시 하나에 SMU, 광파워미터, 광감쇠기, LCR 미터, 데이터 수집 카드를 꽂아 자동 시험 장비를 구성합니다. PCIe Gen3 16 GB/s 대역폭, PXI-1/5 하드웨어 · PXI-6 소프트웨어 규격과 PXI-9 트리거 관리 규격을 따라 표준 PXISA 모듈과 호환됩니다.

섀시	슬롯 (하이브리드)	대역폭	트리거 · 클록	전원
PXIe-3063 / 3063H	6 (0 / 5)	16 GB/s, 슬롯당 4 GB/s	외부 트리거 2, 외부 클록	400 W
PXIe-3093 / 3093H	9 (0 / 6)	16 GB/s, 슬롯당 4 GB/s	타이밍 슬롯, 스타 트리거	500 W
PXIe-3183 / 3183H	18 (0 / 10)	16 GB/s, 슬롯당 4 GB/s	트리거 버스 3구간	800 W

PXIe 시스템 카드 — 시스템 카드 PXIe-1511 · 1711 · 1512

PXIe 광파워미터 — 광파워미터 PXIe-6241 · 6242 · 6211

모듈	모델	주요 사양
시스템 카드	PXIe-1511 / 1711 / 1512	Intel Core i5-11500HE / i7-11850HE / i5-1235U, 16 GB, 512 GB, 2.5GbE ×2, Windows 10
원격 카드	PCIe-PXIe-1041 / 1081	Gen2 2 GB/s / Gen3 8 GB/s, 듀얼 포트, 다중 섀시 연결
광파워미터	PXIe-6241 / 6242 / 6211	4ch 1 µs 고속 +10 ~ −80 dBm / 4ch +10 ~ −70 dBm / 외부 프로브 +25 ~ −45 dBm
광감쇠기	PXIe-6111 / 6121	SM 0 – 60 dB / MM 0 – 40 dB, 분해능 0.01 dB, 정확도 ±0.1 dB, 셔터 격리 > 70 dB
SMU	PXIe-5140 / 5141 / 5142 / 5180	4ch ±10 V · ±30 V, 1 A 펄스(5142), 8ch(5180), 10 pA 분해능
LCR 미터	PXIe-5302 / 5302A	100 kHz – 1 MHz / 10 kHz – 2 MHz, 기본 정확도 ±0.05%, DC 바이어스 ±10 V / ±40 V
데이터 수집	PXIe-4313	4ch 동기 125 MS/s, 16비트, 2 GB 메모리, ±10 V
다기능 I/O · 매트릭스	PXIe-4431 / 7151	16ch 2 MS/s AI, 4ch 3.3 MS/s AO, 48 DIO / 128노드 8×16 리드 릴레이
RAID 카드	PXIe-9010	NVMe 8 TB (최대 16 TB), 쓰기 ≥ 3.5 GB/s

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광소자 시험 계측기 · PXIe 플랫폼

100 ns Pulse Current Source

주요 사양

µs Pulse Test System

모델별 사양

4 · 8채널 Benchtop SMU

측정 범위 (예: SM13041)

LIV 통합 시험 시스템

주요 사양

PXIe 범용 계측 플랫폼

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