AUTOMATED TEST
웨이퍼부터 광엔진까지 자동 시험
자체 개발 SMU와 프로브 구조, 비전 정렬, 자동 적재 · 분류 기능을 갖춘 자동 시험기입니다. 다중 파라미터 · 다중 조건으로 불량을 걸러 다음 공정으로 넘어가지 않게 하고, 시험 데이터는 로컬 · 원격 SQL 서버에 저장합니다.
WT-8502 · WT-VL602
VCSEL 웨이퍼 시험기
850 nm 광통신 VCSEL 웨이퍼와, 3D 센싱 · LiDAR · 고출력 면발광 칩의 광전 성능을 웨이퍼 상태에서 시험합니다. Mapping sweep으로 칩마다 정확히 위치를 잡고 LIV, 스펙트럼, NF · FF를 측정합니다.
- 6인치 척, 4 · 6인치 웨이퍼 대응
- 자체 프로브 구조, 프로브 압력 자동 보정
- LiDAR VCSEL용 100 ns Narrow 30 A 펄스
- 다중 파라미터 선별 후 분류
모델별 사양
- WT-8502
- 0 – 100 mA, DC · 펄스, 0 – 50 mW, 스테이지 25 – 85 °C, UPH ≥ 7,000
- WT-VL602
- 0 – 30 A 100 ns 펄스, 0 – 100 W, 25 – 125 °C, UPH ≥ 3,600
- 파장
- 800 – 1000 nm
- 측정
- Ith, P, Vf, Rs, SE, λp · λc, FWHM, 암점 · Divergence
- 온도
- 안정도 · 균일도 < ±0.5 °C
CHIP22406 · 22406-P
LD 칩 시험기
광통신(DFB · FP · EML · SOA-EML) 칩과 가시광 레이저 칩의 광전 성능을 자동으로 시험합니다. 6인치 블루 필름 링으로 칩을 적재하고, 비전 정렬과 매니퓰레이터로 자동 집어 시험합니다. 다중 프로브의 압력을 실시간으로 감지해 접촉을 보장합니다.
- LIV 곡선, 스펙트럼, Divergence, Polarization 시험
- 칩 코드 OCR 인식
- 다중 조건 선별로 불량 칩 차단
- 스테이지 20 – 90 °C, 안정도 < ±0.1 °C
모델별 사양
- CHIP22406
- CW/펄스 0 – 500 mA, 0 – 5 V, 0 – 100 mW, 900 – 1700 nm, SMSR · Ea 곡선
- CHIP22406-P
- CW 0 – 5 A · 펄스 0 – 10 A, 0 – 20 V, 0 – 100 W, 350 – 700 nm
- 시험 효율
- UPH ≥ 600
BART7101 · BART2201
LD BAR 시험기
광통신 · 가시광 LD BAR를 자동으로 시험합니다. 4인치 점착 방지 박스와 6인치 블루 필름 링 적재, 자체 다중 프로브 구조, 단일 · 이중 스테이션 벤치와 집광 시스템을 갖췄습니다.
- LIV, 스펙트럼, Divergence, Polarization, OCR
- 0 – 1000 mA (범위 맞춤 가능)
- 스테이지 20 – 90 °C, 안정도 < ±0.1 °C
- UPH ≥ 360
모델별 사양
- BART7101
- 단일 스테이션, 0 – 5 V, 0 – 100 mW 또는 0 – 10 W, 350 – 1000 · 900 – 1700 nm
- BART2201
- 이중 스테이션, 0 – 20 V, 0 – 100 mW, 900 – 1700 nm
COC-SOA121
SOA Coupling Tester
광증폭기(SOA) 칩 · 소자의 Input / Output coupling, LIV, 스펙트럼, Polarization 파라미터를 시험합니다. 비전 인식으로 칩마다 자동 정렬해 시험하고 적재 · 분류까지 자동으로 합니다. 공기 베어링 방진 구조와 6축 정밀 결합 슬라이드로 Coupling accuracy를 높였습니다.
- 렌즈 광섬유로 온도별 자동 결합
- PV · 스펙트럼 · Polarization ER(CW · 펄스)
- Mode Field Divergence · 빔 품질 분석
- 스테이지 25 – 85 °C (−40 – 125 °C 맞춤)
주요 사양
- 구동 전류
- 0 – 100 / 250 / 500 mA, 0.1% FS
- 펄스
- 폭 20 µs – 5 ms, 주기 2 ms – 6 s
- 광파워
- 0 – 500 mW
- 파장
- 1200 – 1700 nm
- 측정
- Ith, P, Vf, Rs, SE, Kink, Gain, NF, PDG
COC-TunLD62
Tunable Laser Tester
Tunable Laser COC의 다채널 조합 전원, LIV, 스펙트럼을 시험합니다. 6개 COC를 한 번에 올려 예열한 뒤 순서대로 시험하고, TEC 스테이지와 COC Thermistor 피드백으로 ±0.1 °C 안에서 온도를 유지합니다. Burn-in 지그와 호환돼 재적재가 없습니다.
- PXIe SMU로 SOA · Gain 0 – 500 mA, AP/CP 0 – 50 mA (0.1 mA 스텝)
- 대면적 PD와 단일모드 광섬유 결합 스펙트럼
- 파장 1200 – 1650 nm
- 스테이지 20 – 85 °C
TO TESTERS
PAT5606 · PAT-56-I(E) TO56 
PAT-46-I(E) TO46 PIN · APD-TIA 
LDTO3T8002 3-Temp −40 ~ 85 °C 
PAT903-RGB · PAT-56-I(E)-RGB
이 장비 견적 문의
TO-CAN 자동 시험기
광통신 · 센싱 · 가시광 TO-CAN을 핀 배치에 상관없이 소프트웨어로 전환해 시험합니다. 시험 지그가 Burn-in 시스템과 공용이라 Burn-in 전 · 후 비교 시험을 재적재 없이 합니다.
| 모델 | 대상 | 주요 사양 |
|---|---|---|
| PAT5606 | VCSEL · FP · DFB · DML · EML · SOA-EML TO | 0 – 500 mA, EA ±5 V · ±200 mA, TEC ±1 A, 0 – 100 mW, 800 – 1700 nm, 상온 – 85 °C, ACR 시험 |
| PAT-56-I(E) | VCSEL · FP · DFB TO | 0 – 500 mA, 0 – 100 mW, LIV · EA PV 곡선 |
| PAT-46-I(E) | PIN-TIA · APD-TIA · PIN · APD TO | VBR 0 – 70 V, Dark Current 0 – 100 nA, 내장 광원 850 · 1310 · 1490 · 1550 nm(2 MHz 변조), 64개 250 s(PIN-TIA) |
| LDTO3T8002 | 데이터통신 TO 3-Temp | −40 ~ 85 °C, 냉각 20분 · 가열 10분, 지그당 80개(EML 40개), 모드 호핑 판정, 질소 성에 방지 |
| PAT903-RGB | 가시광 TO56 · TO9 | DC 0 – 10 A · 펄스 0 – 20 A, 0 – 30 W, 200 – 1100 nm, 20 – 85 °C, ≥ 200개/시간 |
| PAT-56-I(E)-RGB | 가시광 TO56 | DC 0 – 500 mA, 0 – 100 mW, ≥ 300개/시간 |
PLST401
LiDAR TO 시험기
LiDAR 고출력 펄스 TO, VCSEL 어레이 TO, 시드 광원 소자의 펄스 시험용 소형 시험기입니다. 자체 30 A · 100 ns Narrow Pulse 계측기를 내장했고, 소량 시험과 R&D 검증에 맞습니다.
- 100 ns 펄스 출력 · 펄스 PIV 스윕 · 펄스 파형 시험
- 외부 Integrating Sphere로 100 W 이상 피크 측정
- TEC 온도 제어 15 – 90 °C
- Far-Field Divergence(옵션, ±60°)
주요 사양
- 펄스 전압
- 0 – 40 V
- 펄스 전류
- 0 – 30 A
- 광 검출
- 0 – 100 µA / 1 mA / 10 mA
- PD 파장
- 400 – 1700 nm
- 계산
- Io, Po, Vf, PCE 등
TTP3302-P
가시광 TO 시험 · 분류 일체형
TO56 · TO9 가시광 레이저의 LIV, 스펙트럼, Divergence을 자동으로 시험하고 분류합니다. 이중 스테이션으로 교대 시험하고, 적재 캐리어가 Burn-in 지그와 호환돼 고출력 TO 신뢰성 시험 전체를 하나로 구성합니다.
- 펄스 0 – 10 A, 최소 100 µs, 듀티 0.1 – 1%
- DC 0 – 4 A, 0 – 10 V
- Divergence ±40°, 분해능 < 0.1°
- 분광 200 – 755 nm, 분해능 0.44 nm
주요 사양
- 광파워
- 0 – 10 W (펄스)
- 작업대 온도
- 10 – 70 °C, ±0.5 °C 균일도
- 적재
- 최대 5층 캐리어, 블리스터 5개
- 전원
- AC 220 V 10 A, 압축 공기 ≥ 0.45 MPa
COBT10201 · COB 테스트 벤치
가시광 레이저 COB 시험기
레이저 프로젝션 · HUD용 COB 모듈과 레이저 헤드라이트 광원의 성능을 시험합니다. 자동 적재 · 분류형(COBT10201)과 소량 · 검증용 벤치형이 있습니다. 대형 Integrating Sphere, CCD 빔 편향 · Divergence 측정, 이중 스테이션 TEC 스테이지를 갖췄습니다.
- 10 A / 60 V, CW · 펄스(10 µs – 10 ms, 듀티 0.01 – 60%)
- 전류 정확도 ≤ ±0.1 A, 안정도 1% / 48시간
- 스테이지 15 – 90 °C, ±0.1 °C
- 파장 380 – 780 nm, 0 – 150 W
측정 항목
- LIV
- CW · 펄스
- 광학
- 스펙트럼, 파장, Threshold, Slope Efficiency
- 빔
- 스폿 발산, 지향각 (근 · Far-Field 카메라)
- 분류
- 양 · 중 · 불량 자동 트레이 분류
COBT2001
광모듈 COB 시험기
VCSEL 다중모드 패키지의 광결합 전 · 후 모듈 시험과 VCSEL 칩 신뢰성 검증에 씁니다. PSS Burn-in 보드와 호환돼 SFP · QSFP · QSFP-DD COB의 Burn-in과 시험을 한 번에 끝냅니다. 집광 장치가 출력 크기에 관계없이 파워 측정 반복성을 보장합니다.
- 이중 보드 4스테이션 병렬 시험
- 대면적 PD, Divergence에 맞춰 PD 위치 조정
- 이온 송풍으로 정전기 제거 · 방열
- SFF8472 · 8436 · CMIS4.0
주요 사양
- 보드 수
- SFP 28 · QSFP 12 · QSFP-DD 10 · OSFP 6
- 구동 능력
- SFP ≤ 3.5 W … OSFP SR8 ≤ 16 W
- 광파워
- 0 – 10 mW, 1% FS ± 50 µW
- 시험 효율
- UPH ≥ 300 (400G SR8)
- 일관성
- Ith < 1%, Power < 1%
